一种数据过采样方法、系统、电子设备和存储介质

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一种数据过采样方法、系统、电子设备和存储介质
申请号:CN202510083484
申请日期:2025-01-20
公开号:CN120124772A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种数据过采样方法、系统、电子设备和存储介质,涉及数据处理技术领域,方法包括:基于不均衡数据集中的样本点的每个特征值与结果之间的Spearman相关系数,对欧式距离计算公式进行修改,确定修改后的欧式距离计算公式;利用修改后的欧式距离计算公式计算得到的距离,对所述不均衡数据集中的预设少数类样本点进行过采样处理。本发明考虑了每个特征与结果之间的Spearman相关系数,从而为不同的特征赋予不同的权重,利用本发明对不均衡数据集进行过采样处理,能够提高机器学习模型的训练效果。
技术关键词
样本 过采样方法 采样系统 特征值 电子设备 可读存储介质 机器学习模型 数据处理技术 模块 处理器 存储器 计算机
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