一种针对放射治疗质控图像寻找典型微小特征的方法

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正文
推荐专利
一种针对放射治疗质控图像寻找典型微小特征的方法
申请号:CN202510090334
申请日期:2025-01-21
公开号:CN120013898A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明的目的是提供一种针对放射治疗质控图像寻找典型微小特征的方法,该方法包括:将待检测图像转换为矩阵;将所述矩阵进行奇异值分解;根据分解后的矩阵得到待检测图像的处理结果。本发明识别的特征通常比较小,是均匀模体上抠掉的小坑小洞或铅点。且均匀模体结构简单方正,开的射野也是方野。而要识别的特征通常相对复杂,是圆或圆弧。本发明通过分解的方式,把要识别的特征与去掉特征的均匀模体图像分开,从而降低特征识别工作的难度。
技术关键词
矩阵 计算机程序代码 典型 图像转换模块 模体 电子设备 可读存储介质 识别工作 处理器 指令 存储器 芯片 重构 噪声
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