基于大语言模型和光学字符识别的智能阅卷方法

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基于大语言模型和光学字符识别的智能阅卷方法
申请号:CN202510092303
申请日期:2025-01-21
公开号:CN119538873A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及辅助阅卷技术领域,具体提供了一种基于大语言模型和光学字符识别的智能阅卷方法。该方法包括:通过大语言模型对试卷和答案进行处理,得到试题解析文本,其中,试题解析文本包括对答案的解析文本;通过光学字符识别技术对需要阅卷的试卷图像进行处理,得到对应的答题文本;通过试题解析文本与答题文本的对比,确定各个题目的评分数据,其中,评分数据包括评分和评语。本发明提供的上述智能阅卷方法,能够解决相关技术中的智能阅卷方法阅卷准确率较低的问题。
技术关键词
试题解析 大语言模型 智能阅卷方法 文本 试卷图像 答案 答题 语义向量 记忆 智能助理 光学字符识别技术 数据 关键词 机器学习模型 抑制算法 计算机程序产品 指令 逻辑
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