一种单光子测距芯片的验证系统、验证方法及程序产品

本申请提供一种单光子测距芯片的验证系统、验证方法及程序产品，芯片验证环境层包括多个功能验证环境层，在单光子测距芯片的验证中，功能级验证合理复用至芯片系统级验证平台，有效减少验证过程中的重复工作，保证验证代码的稳定性和正确性；在保证验证完备性的同时，增加了验证环境的灵活性和可重用性，提高单光子测距芯片的验证效率，缩短芯片验证时间，减少芯片设计开发成本。