基于数字孪生的电子光栅质检方法、系统、介质

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基于数字孪生的电子光栅质检方法、系统、介质
申请号:CN202510098592
申请日期:2025-01-22
公开号:CN120013904B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及质检技术领域,并具体公开了基于数字孪生的电子光栅质检方法、系统、介质,其方法包括:对标准形态的实际零件进行三维建模,获得实际零件的数字孪生模型;基于实际零件的数字孪生模型对实际零件的表面区域进行质检分区,获得实际零件的所有外观质检区域;利用数字孪生电子光栅组对实际零件的每个外观质检区域进行检测,获得实际零件的每个外观质检区域的形状尺寸测量数据和表面缺陷检测数据;基于实际零件的所有质检区域的形状尺寸测量数据和表面缺陷检测数据以及数字孪生模型,获得实际零件的质检结果;实现对质检对象的精准分区检测,并利用数字孪生实现对质检结果的直观可视化。
技术关键词
数字孪生模型 零件 表面缺陷检测 质检方法 形态 光栅 数据 电子 序列 质检系统 质检技术 尺寸 分区模块 曲线 坐标系 介质 计算机
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