测试点自动生成方法

本申请公开了一种测试点自动生成方法，该方法包括：获取网表文件，所述网表文件用于存储芯片测试数据；根据预设关键数据读取规则从所述网表文件中读取出多个芯片配置数据集合；利用预设数据处理规则对所述多个芯片配置数据集合进行数据处理，得到候选芯片测试数据集合，所述候选芯片测试数据包括候选芯片标识和对应的候选测试节点数据；确定待测试芯片标识；基于所述待测试芯片标识，从所述候选芯片测试数据集合中提取出与所述待测试芯片标识匹配的候选芯片测试数据作为目标芯片测试数据；根据所述目标芯片测试数据生成所述待测试芯片标识对应的待测试节点数据，能够自动生成准确的待测试节点。