基于NbN膜的高集成度超导量子器件倒装芯片及其制备方法

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基于NbN膜的高集成度超导量子器件倒装芯片及其制备方法
申请号:CN202510099978
申请日期:2025-01-22
公开号:CN120018765A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于NbN膜的高集成度超导量子器件倒装芯片及其制备方法,芯片从下到上依次设置为:下层芯片包括下层衬底、第一超导薄膜,第一金属柱子,上层芯片包括上层衬底、第二超导薄膜和第二金属柱子,其中:第一超导薄膜上制作共面波导传输线、第一套刻对准标记,第二超导薄膜上制作谐振器、第二套刻对准标记;上层芯片和下层芯片之间采用倒装技术,通过将下层芯片的第一套刻对准标记与上层芯片的第二套刻对准标记一一对准,将第一金属柱子与第二金属柱子连接在一起,从而使上下层芯片实现电性连接。本发明有助于减小器件的占地面积和提高集成度。
技术关键词
超导薄膜 对准标记 倒装芯片 共面波导传输线 柱子 磁控溅射设备 光刻胶 匀胶 倒装技术 清洗基片 超导谐振器 贴片机 动态电感 光刻曝光 衬底
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