一种通过深度剖析数据自动提取薄膜物理参数的方法

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一种通过深度剖析数据自动提取薄膜物理参数的方法
申请号:CN202510105395
申请日期:2025-01-23
公开号:CN120068920A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种通过深度剖析数据自动提取薄膜物理参数的方法,包括:首先,通过实验获得深度剖析数据。其次,初始化协同粒子群算法的运行参数,并引入动态调整与重置机制。最后,基于MRI模型对实验数据进行卷积拟合,精确计算每个粒子的适应度,以实现快速有效的参数更新。通过采用多策略协同粒子群优化算法,本发明能够精准高效地从薄膜深度剖析数据中自动提取MRI模型的物理参数。动态调整与重置机制的引入,不仅提高了算法的收敛速度,还克服了粒子群算法易陷入局部最优的问题。此外,在噪声环境下,该方法仍能保持出色的结果。
技术关键词
辉光放电质谱仪 粒子群算法 薄膜 粒子群优化算法 俄歇电子能谱仪 物理 二次离子质谱仪 数据 X射线光谱仪 最佳参数组合 剖析方法 机制 判断算法 多策略 速度 动态 计算方法
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