射频变频系统、芯片、装置和射频变频系统的测试方法

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射频变频系统、芯片、装置和射频变频系统的测试方法
申请号:CN202510109983
申请日期:2025-01-23
公开号:CN120017081A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种射频变频系统、芯片、装置和射频变频系统的测试方法,涉及集成电路测试技术领域,射频变频系统,包括:射频前端、滤波模块、增益模块、输入输出接口和开关模块,所述射频前端的输出端与所述滤波模块的输入端连接,所述滤波模块的输出端与所述增益模块的输入端连接,所述增益模块的输出端与所述输入输出接口的输入端连接,所述开关模块与所述射频前端的输出端、所述滤波模块的输出端、所述增益模块的输出端、和所述输入输出接口连接。本发明通过灵活改变信号传递路线,能够采集到不同组合路径下的测试数据,为准确评估各模块性能提供了有效的测试方法,实现了灵活高效的对射频芯片进行测试。
技术关键词
增益放大器 变频系统 滤波模块 输入输出接口 滤波器 开关单元 输出端 输入端 测试方法 开关模块 射频芯片 集成电路测试技术 信号 变频装置 数据 级联
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