一种存储芯片的测试系统及测试方法

本发明提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，其中测试系统包括主机、芯片测试座、第一接口模块、第二接口模块以及桥接芯片模块；芯片测试座上用以安装待测芯片；第一接口模块和第二接口模块用以与主机进行连接；桥接芯片模块用以获取主机写入的测试数据包，并将测试数据包在待测芯片的数据包格式与第一接口模块或第二接口模块的数据包格式之间进行协议转换；桥接芯片模块用以将待测芯片的读写性能调整到不同的读写速度等级，以检测待测芯片的读写性能。本发明通过主机判断测试数据包在经过存储芯片读写后的完整性，从而确定待测芯片对应读写速度的读写性能，以解决传统测试平台无法完全满足迭代后存储芯片的读写性能测试要求的问题。