一种内存器的读写测试方法、电子设备及存储介质

本申请公开了一种内存器的读写测试方法、电子设备及存储介质，包括：与待测内存器建立通讯连接；获取若干个测试子序列；按照预设的地址间隔，为每个测试子序列设定对应的写入地址；按照预设的写入顺序，将对应的测试子序列写入至内存缓冲区内，根据测试序列对应的写入地址，将内存缓冲区内的测试子序列写入至待测内存器，并对内存缓冲区执行清洗操作以清除内存缓冲区内的数据，直至所有的测试子序列完成写入至待测内存器中；再次按照写入顺序，依次通过内存缓冲区和根据写入地址，从待测内存器分别获取得到若干个读取子序列；将读取子序列和测试子序列进行对比，生成测试结果。本申请能够高效对内存器进行读写测试的同时，还能保证测试准确性。