一种芯片采样配置参数动态调整方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种芯片采样配置参数动态调整方法、装置、设备及介质，方法包括：初始化并更新温度采样配置数组；获取温度信息并对温度变化标志进行置位；根据置位情况和温度信息判断温度采样配置数组中是否存在当前温度值下的采样配置参数；当采样配置参数存在，根据采样配置参数更新eMMC采样配置参数，更新温度变化标志后执行eMMC操作；当采样配置参数不存在，通过调谐获取采样配置参数，根据采样配置参数更新eMMC采样配置参数、温度采样配置数组以及eMMC稳定性配置分区，更新温度变化标志后执行eMMC操作。本发明通过实时调整eMMC采样配置参数，提高了系统的工作效率和稳定性，可广泛应用于计算机控制系统技术领域。