一种计入互耦效应的平面阵列仅相位加权波束赋形方法

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一种计入互耦效应的平面阵列仅相位加权波束赋形方法
申请号:CN202510118400
申请日期:2025-01-24
公开号:CN120049194A
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种考虑互耦效应的平面阵列仅相位加权波束赋形方法,其实现方案为:通过建立小阵列即目标大阵列的子阵来仿真提取各单元AEP,然后通过子阵外推的计算方法,将提取的子阵各单元AEP近似等效目标大阵列其他单元的AEP;再将其带入算法中,增加系统的鲁棒性;设置方向图综合的上下界约束函数和辅助变量,引入比例因子,拉格朗日乘子等参数,构造方向图综合数学表达式与增广拉格朗日函数;迭代更新辅助变量、比例因子、天线阵列各单元馈电相位、拉格朗日乘子的值,求解方程获得唯相位综合结果;本发明避免了互耦效应对阵列性能的影响,通过经典ADMM算法和BFGS算法计算馈电相位简化了求解过程,可高效且精确的处理大规模问题。
技术关键词
波束赋形方法 互耦效应 增广拉格朗日 变量 天线阵列单元 表达式 因子 空间相位补偿 ADMM算法 幅值 数学 矩阵 天线阵元 天线单元 非线性 定义
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沪ICP备2023015588号