摘要
本发明涉及半导体技术领域,解决了传统静电吸盘无法适用于复杂的刻蚀工艺环境,同时难以精确控制静电吸盘表面各处温度的技术问题,尤其涉及一种新型刻蚀静电吸盘、温度自适应控制装置及方法,包括划分区域、获取实时的温度数据、建立初始数学模型、优化初始数学模型、计算目标流速以及循环时间、反馈至冷却系统实现自适应控制。本发明能够在复杂的刻蚀工艺环境下,更加精确地控制冷却介质的流速,实现对静电吸盘温度的高效、稳定自适应控制,提高半导体刻蚀工艺的质量和可靠性,减少因温度波动导致的晶圆缺陷,为半导体制造产业提供了一种先进的温度控制技术解决方案。
技术关键词
温度自适应控制方法
温度自适应控制装置
静电吸盘
冷却管道
温度检测模块
数学模型
冷却系统
流速
介质
半导体刻蚀工艺
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