序列生成装置、芯片测试器件、设备及序列生成方法

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序列生成装置、芯片测试器件、设备及序列生成方法
申请号:CN202510122801
申请日期:2025-01-24
公开号:CN120179486A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种序列生成装置、芯片测试器件、设备及序列生成方法,涉及计算机技术领域。该序列生成装置包括:第一SR模块、第二SR模块和配置模块;第一SR模块,用于执行第一移位操作产生第一输出序列;向配置模块发送第一输出序列;配置模块,用于基于第一输出序列确定第二SR模块的序列生成规则;第二SR模块,用于基于序列生成规则,执行第二移位操作产生第二输出序列。由于第一SR模块会随机产生不同的输出序列,相应的配置模块会确定多种序列生成规则,使得第二SR模块能够切换不同的规则来生成输出序列,增加了序列的多样性,从而提高了基于该序列生成的测试向量的多样性,有利于提高对芯片的测试覆盖率,提高了测试可信度。
技术关键词
生成规则 序列生成装置 序列生成方法 测试器件 电路 逻辑 控制模块 移位寄存器 计算机设备 信号 测试覆盖率 标识 芯片 环形 数据 开关 模式
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