钴纳米互连线及其制备方法

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钴纳米互连线及其制备方法
申请号:CN202510122964
申请日期:2025-01-26
公开号:CN119581414B
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种钴纳米互连线及其制备方法,属于集成电路领域。本申请通过在双通PC膜一侧磁控溅射沉积Au层,在Au层上电沉积Cu层,在双通PC膜的孔道内电沉积钴纳米互连线,将Au层从双通PC膜上剥离,溶解双通PC膜并离心分离,得到钴纳米互连线。本申请通过磁控溅射和电沉积技术相结合,可实现钴纳米互连线的可控生长,与目前芯片互连工艺具有较高的兼容性;通过控制电沉积工艺参数,可以对钴纳米互连线进行织构和长径比的调控。该方法步骤简单,易于实现工业化生产,降低生产成本,制备出的钴纳米互连线在芯片互连等领域具有广泛的应用潜力。
技术关键词
纳米 互连线 沉积钴 磁控溅射沉积 饱和甘汞电极 电沉积槽 芯片互连 参比电极 电沉积工艺 孔道 集成电路 阴极 阳极 真空度 电压 功率 参数
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