一种芯片探针生产设备的智能管理方法

本发明涉及一种芯片探针生产设备的智能管理方法，属于芯片探针生产设备管理技术领域，本发明通过从芯片探针折弯图纸中采集每一芯片探针的折弯要求数据信息，并根据每一芯片探针生产设备在当前时间戳的折弯精度特征数据初选出可正常进行加工任务的芯片探针生产设备，最后根据每一芯片探针的折弯要求数据信息以及可正常进行加工任务的芯片探针生产设备进行生产优化，并监控每一芯片探针生产设备的生产状态。本发明通过判定述芯片探针生产设备的折弯精度数据是否在芯片探针折弯过程中折弯工艺数据阈值范围之内，进而来动态来优化芯片探针生产设备的生产规划，从而来减少芯片探针在折弯过程中的次品率，降低生产成本，减少芯片探针的生产损失。