一种用于新能源汽车芯片的综合检测系统

本发明公开了一种用于新能源汽车芯片的综合检测系统，包括：数据采集模块：用于采集所述新能源汽车芯片的运行数据；信号处理模块：用于将模拟信号转换为数字信号，并对信号进行处理；故障分析模块：用于通过机器学习算法对所述运行数据进行分析，构建与故障强相关的高敏感度特征；安全测试模块：用于进行HBM、CDM和EMC测试，以评估芯片的安全性能；性能测试模块：用于通过高温寿命测试HTOL和早期寿命失效测试ELFR评估芯片在设定极端条件下的性能；数据存储与分析模块：用于存储测试数据。通过本发明提供的方案，根据测量电变量和测量磁变量提高了预测准确性、测量效率和异常检测能力，从而能够全面评估芯片的性能、安全性和可靠性。