芯片的加速老化和质量检测方法

本发明提供了一种芯片的加速老化和质量检测方法，其中加速老化方法包括以下步骤：S1：采用第一超声波对待老化的芯片进行清洗；S2：在预设温度下，采用预设压力的第二超声波对所述芯片施加压力，促进所述芯片的老化。本发明通过超声波的压力对芯片进行损伤实验，可有效损伤芯片外部结构和元件内部，达到加速芯片老化的目的，提高了芯片质量检测实验的效率。