电子设备、存储器及其擦除方法

本发明提供一种电子设备、存储器及其擦除方法，包括对所述存储器中指定区域内的存储单元进行擦除操作；逐一对所述指定区域内各存储单元的阈值电压进行检测，并在检测到当前存储单元过擦除时对所述存储单元进行一次软编程操作；重新逐一对所述指定区域中各存储单元的阈值电压进行检测，并在检测到当前存储单元过擦除时对所述存储单元进行N次软编程操作，直至所述存储单元的过擦除状态解除或N达到计数上限，其中，N为大于等于1的自然数。本发明提升了整个存储器芯片的可靠性和良率。