自动测试设备误差校准方法、装置、终端设备及存储介质

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推荐专利
自动测试设备误差校准方法、装置、终端设备及存储介质
申请号:CN202510159681
申请日期:2025-02-13
公开号:CN120067831A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本申请涉及自动测试设备技术领域,尤其涉及一种自动测试设备误差校准方法、装置、终端设备及存储介质,该方法包括:实时采集自动测试设备运行过程中的工作数据;对所述工作数据进行误差分析,确定误差类别;根据所述误差类别和所述工作数据,建立误差校准模型,并对所述误差校准模型进行训练;当所述自动测试设备进行工作时,将所述误差校准模型集成到所述自动测试设备中,对所述自动测试设备进行实时校准。使得对自动测试设备可以进行更全面的校准操作。
技术关键词
自动测试设备 误差校准方法 线性回归模型 神经网络模型 非线性误差 终端设备 数据 误差校准装置 误差校正 多项式 正确率 计算误差 处理器 参数 可读存储介质 模块
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