一种基于衍射光学元件的材料高光谱BRDF测量方法

本发明公开了一种基于衍射光学元件的材料高光谱BRDF测量方法，解决了现有光谱BRDF的测量成本较高，测量过程复杂，且测量的数据也不够精准的问题，衍射光学元件具有负色散的特性，其在设定焦距通常只对单一波长进行清晰成像，基于这一理念，本发明采用基于衍射光学元件以及深度学习的端到端网络联合优化目标材料的高光谱BRDF数据，即在优化DOE表面高度的同时，同步学习用于BRDF高光谱的网络参数，实现材料BRDF高光谱反演。使用优化的衍射光学元件与CCD相机替代光谱探测器采集高光谱BRDF数据可以大大减小测量装备体积，降低总体成本，提高精度和准确度。