一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，涉及集成电路测试技术领域，包括：获取预设输入接口输入的第一目标电平，并基于所述第一目标电平对目标芯片进行预设高速信号测试，以得到第一测试结果；基于所述第一测试结果调整所述第一目标电平，以得到相应的第二目标电平；根据所述第二目标电平对所述目标芯片进行预设内建自测试，以得到第二测试结果，并基于所述第一测试结果和所述第二测试结果确定所述目标芯片对应的目标测试结果。由上可见，本申请可以基于预设输入接口输入的电平控制目标芯片进行高速信号测试或内建自测试，实现了按需对芯片进行最终测试，缩短了测试时间，提高了芯片的测试效率，同时降低了芯片测试的成本。