高带宽存储器HBM数据访存性能测试系统及方法

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高带宽存储器HBM数据访存性能测试系统及方法
申请号:CN202510178163
申请日期:2025-02-18
公开号:CN120104490A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种高带宽存储器HBM数据访存性能测试系统及方法。一种HBM数据访存性能测试系统,包括:HBM测试硬件平台,被配置为利用测试指令对待测硬件在预定HBM访存行为下的HBM访存性能进行测试,并根据测试结果生成所述待测硬件的HBM访存性能报表,其中所述测试指令是根据所述预定HBM访存行为而生成的;HBM软件分析器,被配置为基于所述HBM访存性能报表建立所述待测硬件的HBM访存仿真模型,并利用仿真指令使所述HBM访存仿真模型对待测硬件在执行预定计算任务时的HBM访存性能进行仿真,其中所述仿真指令是根据所述预定计算任务而生成的。
技术关键词
性能测试系统 高带宽存储器 测试硬件平台 仿真模型 性能测试方法 指令 发射组件 报表 处理单元 监视器 分析器 处理器通信 数据接口 时延 控制器 软件 电子设备
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