一种多角度芯片缺陷检测装置

本发明涉及芯片检测技术领域，并公开了一种多角度芯片缺陷检测装置，包括机架以及外壳，外壳设置在机架上，外壳的侧面设置有盖板，机架的内顶面设置有驱动架，驱动架上安装有检测摄像头，机架的内顶面侧边位置处固定安装有固定板。本发明检测摄像头复位至防护筒上方后，能够自动进行清理，转板的移动触发驱动齿条和传动齿轮的啮合，带动轴杆旋转并对卷簧蓄力，当检测摄像头完全到位后，在卷簧释放能量的作用下，扇叶高速旋转，产生强大的气流，有效吹走检测摄像头镜片上的灰尘和其他附着物，整个过程无需人工干预，既提高了工作效率，又保证了摄像头镜片的清洁度，从而维持了视觉检测的准确性。