融合边缘特征的芯片缺陷检测模型训练方法和检测方法

本发明涉及缺陷检测技术领域，公开了一种融合边缘特征的芯片缺陷检测模型训练方法和检测方法，该芯片缺陷检测模型训练方法包括：对YOLOv11神经网络模型进行改进，构建缺陷检测模型，缺陷检测模型包括主干网络、颈部网络和头部网络，主干网络包括卷积模块和ESIC3k2模块，颈部网络包括SPFF模块、C2PSA模块、上采样模块、CWFM模块和C3k2模块，主干网络中部的ESIC3k2模块与颈部网络的CWFM模块连接，主干网络末端的ESIC3k2模块与颈部网络的SPFF模块连接，主干网络颈部网络末端的三个C3k2模块分别与头部网络连接；利用预先构建的Micro‑LED芯片缺陷数据集对缺陷检测模型进行训练，得到训练后的缺陷检测模型。本发明能够提高Micro‑LED芯片缺陷检测精度。