一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统

本发明公开了一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统，涉及半导体测试技术领域。本发明通过集成的测试控制模块自动初始化测试环境、配置测试信号，并根据用户输入的测试需求自动选择并配置相应的测试信号类型和参数。利用机械控制算法，系统能够自动连接和断开测试设备端口与功率放大器芯片的端口，从而消除了手动操作的烦琐和误差，提高了测试效率和准确性；本发明测试数据收集模块实时计算并记录GaN功率放大器的关键测试表现参数，对收集到的测试数据进行校准和分析计算，生成详细的测试结果数据，提供更全面的性能评估，帮助用户更深入地了解GaN功率放大器的性能特点。