一种基于FPGA的芯片测试方法

一种基于FPGA的芯片测试方法，包括：FPGA模块根据上位机的装订信息确定不同类型待测芯片的测试地址范围，并从内存中读取待测芯片的测试向量，通过测试向量进行测试；FPGA模块通过不同数据总线连接不同类型待测芯片，同一类型待测芯片的测试数据以及测试向量均相同；响应上位机的初始化指令，将待测芯片进行多路并行初始化，并对初始化不成功的待测芯片执行串行初始化；响应上位机的写验证指令，将待测芯片的测试向量写入目的地址；响应上位机的读验证指令，读取目的地址中的数据，并与写入的数据进行比对，标记不一致的目的地址位置，将比对后的信息反馈至上位机。本申请利用FPGA的可编程性以及灵活性对不同类型待测芯片进行多路并行测试，减少芯片的测试时间。