触摸屏的表面缺陷检测方法及相关设备

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触摸屏的表面缺陷检测方法及相关设备
申请号:CN202510207880
申请日期:2025-02-25
公开号:CN120102589A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种触摸屏的表面缺陷检测方法及相关设备,包括以下步骤,对目标触摸屏的表面进行光学成像,得到光学图像;通过预设语义分割算法对所述光学图像进行图像分割,得到分割子图像;将所述分割子图像输入预设的图像检测算法,以判断所述目标触摸屏中是否存在缺陷;若存在,则基于所述分割子图像对所述目标触摸屏进行缺陷定位和标记,得到目标触摸屏的表面缺陷区域;基于所述表面缺陷区域确定所述目标触摸屏的缺陷类型,并基于所述缺陷类型制定相应的质量控制措施,解决了基础的自动化光学检测系统虽然能在一定程度上提高检测速度,但面对复杂背景和微小缺陷时,其识别精度和可靠性仍有待提高的技术问题。
技术关键词
表面缺陷检测方法 触摸屏 语义分割算法 融合光谱图像 空间金字塔池化 图像分割 光学成像 自动化光学检测系统 多尺度特征 多波段 二值特征 Zernike矩 表面缺陷检测装置 曲率特征 邻域特征 局部注意力机制 边界特征 加权特征
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