芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

本发明实施例提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,芯片测试方法包括：获取待测芯片的芯片标记信息；根据芯片标记信息和预设的应用场景设定库确定得到待测芯片的目标应用场景信息；根据目标应用场景信息从预设的场景参数设定库中确定目标测试参数；基于目标功能测试参数对待测芯片进行测试得到第一测试结果；以及，基于目标性能测试参数对待测芯片进行测试得到第二测试结果；以及，基于目标可靠性测试参数对待测芯片进行测试得到第三测试结果；根据第一测试结果、第二测试结果和第三测试结果确定得到待测芯片的芯片测试结果。根据本发明实施例的方案，使得芯片测试能够更加合理。