一种便于调节的射频测试设备

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一种便于调节的射频测试设备
申请号:CN202510219358
申请日期:2025-02-26
公开号:CN120028676A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片射频测试技术领域,公开了一种便于调节的射频测试设备,包括测试台,所述测试台的内部转动连接有螺纹杆一,所述螺纹杆一的外壁螺纹连接有升降板,所述螺纹杆一的外壁固定连接有锥齿轮一,所述升降板的上表面固定连接有测试箱,所述测试箱的上表面设置有显示屛,所述显示屛的下表面设置有显微摄像头,所述测试箱的外壁固定连接有射频接口,所述射频接口内部固定连接有线缆的一端,所述线缆的另一端固定连接有射频测试探针。通过升降板两侧的螺纹杆一同步旋转,可以确保两侧的移动保持一致,从而保证射频测试探针的垂直移动,有助于提高测试的精度,避免因不对称移动造成测试误差或射频测试探针与测试点接触不良。
技术关键词
射频测试设备 测试探针 射频接口 芯片载台 测试台 测试箱 升降板 移动机构 射频测试技术 锥齿轮 支撑台 线缆 测试误差 齿条 滑杆 移动块 测试点 遮光板
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