一种芯片分选测试设备

本发明涉及电子元件检测技术领域，公开了一种芯片分选测试设备，包括外壳，所述外壳的内底壁固定连接有第三调节板，所述第三调节板的内壁滑动连接有调节杆，所述调节杆的上表面固定连接有第二料盘，所述第二料盘的下表面固定连接有限位导杆，所述外壳的上表面固定连接有桌板，所述桌板的内壁设置有适应检测测试组件，所述适应检测测试组件的下表面设置收集组件，所述桌板的两侧设置有用于检测的检测测试槽。通过调节杆在第三调节板的限位下运动让第二料盘在限位导杆和限位板的限位下下降，起到了更换区域进行测试和检测的效果，避免因区域限制无法安装多种检测设备，从而进一步增加检测多样性的效果。