芯片变距传送装置及芯片测试机

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芯片变距传送装置及芯片测试机
申请号:CN202510222180
申请日期:2025-02-27
公开号:CN119706355B
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片变距传送装置及芯片测试机,芯片变距传送装置包括:机架以及变距机构。变距机构配置为调节芯片之间的间距;变距机构包括:第一转筒、滑台以及驱动齿条,第一转筒的外周表面设置第一螺旋限位槽,其一端设置有驱动齿轮,滑台上设置有若干缓存槽,将芯片放置在变距机构上的缓存槽。驱动齿轮与驱动齿条啮合,当第一转筒转动,驱动齿轮在驱动齿条啮合的基础上,沿驱动齿条的延伸方向移动;同时,缓存槽即可在第一螺旋限位槽的驱动下调节缓存槽之间的间距,进而调整芯片的间距,使其满足测试装置的测试间距,达到便于测试装置测试芯片的目的。
技术关键词
驱动齿条 变距机构 转筒 抓取机构 芯片测试机 吸取件 滑台 料盘 半环 齿轮 滑座 螺旋 限位件 间距 安装板 机架 滑板 外周面 机械手
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