一种存储芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

本发明实施例公开一种存储芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域，其中，所述方法包括：在当前读/写周期内，向存储芯片输入n个读/写时钟信号，控制所述存储芯片进行读/写操作，其中n为大于1的整数；获取所述存储芯片在所述n个读/写时钟信号的首个有效时钟沿下输出/入的第一读/写数据；获取根据第一读/写数据所确定的存储芯片在所述n个读/写时钟信号的其它有效时钟沿下输出/入的第二读/写数据；根据所述第一读数据、第二读数据、第一写数据和第二写数据，验证所述存储芯片的合格性。本发明实施例可适用于存储芯片测试场景，以解决现有技术中最高时钟频率下存储芯片测试效率低、可靠性差的问题。