一种集成电路的试验制备装置及试验制备方法

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一种集成电路的试验制备装置及试验制备方法
申请号:CN202510230284
申请日期:2025-02-28
公开号:CN120072677A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本申请公开了集成电路的试验制备装置及试验制备方法,包括:运载台、人机交互模块、控制模块、驱动模块、定位适配模块和定位锁定模块,其中,运载台用于放置被试验样品;人机交互模块用于输入制备指令,其中,制备指令至少包括被试验样品的被试验样品类型;控制模块用于根据制备指令,控制驱动模块进行动作;驱动模块用于根据制备指令,驱动定位适配模块动作;定位适配模块用于根据被试验样品类型,确定被试验样品的外形参数;定位锁定模块用于根据被试验样品的外形参数,对被试验样品进行锁定,在锁定完成后,对被试验样品进行焊接前的制备,可快速完成集成电路可焊性试验制备,并降低操作难度提升制备成功率。
技术关键词
集成电路 人机交互模块 控制模块 弹性部件 指令 测试样品 外形 电子显微镜 机架 参数 伺服电机 上印刷 解锁 电磁 触摸屏 基板 运动 控制器 线圈
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