一种目标检测方法、系统、介质及电子设备

本申请提供一种目标检测方法、系统、介质及电子设备。所述目标检测方法包括：对点集合进行若干次点集变换获取目标点集合；对所述目标点集合进行处理得到特征图；根据所述特征图获取目标检测结果；其中，第一次点集变换的输入点集合为待检测图像，其余次点集变换的输入点集合为上一次点集变换的输出点集合，最后一次点集变换的输出点集合为所述目标点集合；所述点集变换的过程包括：根据输入点集合获取归一化的位置特征和归一化的像素特征；对所述归一化的位置特征进行聚类获取位置簇；对所述归一化的像素特征和所述位置簇进行相似度计算，并根据计算结果获取像素簇；根据所述像素簇里中心点的索引，获取输出点集合。