一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统

本申请提供一种玻璃表面纳米涂层厚度控制方法及系统，属于检测控制技术领域，用以以实现低成本且高精度的纳米涂层厚度检测控制。控制设备获取目标图像，玻璃面板表面涂覆有纳米涂层，目标图像是在将纳米涂层表面进行雾化处理的情况下，对玻璃面板表面的纳米涂层进行拍摄得到；控制设备将目标图像离散分割为K个子图像集合；控制设备通过AI/ML模型分别对K个子图像集合进行分析，得到对应的K个分析结果，并将K个分析结果融合，得到目标图像的分析结果，目标图像的分析结果为在玻璃面板上标注纳米涂层非均匀的区域的图像；控制设备指示涂覆设备对非均匀的区域的纳米涂层进行修正。