一种接口测试装置及三维堆叠芯片

本发明公开一种接口测试装置及三维堆叠芯片，接口测试装置包括：接口模块以及多个片上驱动模块；接口模块与存储器中多个直接访问接口连接，直接访问接口用于接收测试机台发送的测试激励；片上驱动模块的输入端与接口模块连接，片上驱动模块的输出端与存储器内的目标测试微凸连接，用于将目标测试微凸由单向端口转变为双向端口；其中，直接访问接口在接收到测试激励后，将测试激励发送至接口模块，接口模块将测试激励转发至存储器内的目标测试微凸，以对存储器进行目标测试。如此，不仅增大了存储器中微凸测试覆盖率，同时提高微凸的同测数。