一种平板相控阵天线近场校准方法

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一种平板相控阵天线近场校准方法
申请号:CN202510234565
申请日期:2025-02-28
公开号:CN120074695A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种平板相控阵天线近场校准方法,此方法包括:利用波束控制器配置法向辐射初始幅相,在阵元全开情况下测得全阵近场区幅度、相位,基于平面波展开法将近场电场换至口径场并进行探头补偿。对补偿后的口径场幅相数据,结合实际的阵面阵元尺寸及位置排列方式,基于图像处理的方式,提取口径场边缘并搜索口径区域从而快速提取出各个阵元幅相。依据口径场数据诊断校准可行性,对发射阵和接收阵采用不同的校准策略,生成各频点幅度相位校准值,将校准值载入波束控制器,依次完成幅度校准、相位校准、幅相迭代校准。本发明所述方法特别适用于大规模平板相控阵天线,在缩短校准时间、不显著降低阵列性能的基础上保持了较高的校准精度。
技术关键词
相控阵天线近场 相位校准 校准方法 校准策略 平板 探头 阵列 坐标系 初始相位补偿 缩短校准时间 近场测试系统 边缘检测 滑动窗 区间算法 移相器 区域方法 附加误差 耦合误差
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