一种漏电路径的定位方法、测试系统、定位装置以及介质

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正文
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一种漏电路径的定位方法、测试系统、定位装置以及介质
申请号:CN202510238174
申请日期:2025-02-28
公开号:CN120028728A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种漏电路径的定位方法、测试系统、定位装置以及介质,涉及芯片设计技术领域。基于漏电芯片的源漏电引脚和目标漏电引脚的获取,确定源漏电引脚连接的第一处理器和电源芯片。通过对漏电芯片的电源下电处理,确定与电源芯片对应的电源输出引脚的电压输出状态,电源输出引脚会无电压输出。漏电芯片的目标漏电引脚由原来从电源输出引脚中输出线路,作为负载引脚,到当前转变为电源属性参与电压输出状态的或逻辑运算。根据目标漏电引脚和电源输出引脚各自的电压输出状态进行或逻辑运算得到运算结果,通过电压输出状态来替代实际的电压值进行计算,采用基本的逻辑运算即可快速有效进行追溯排查,完成漏电现象存在的漏电路径的定位。
技术关键词
电源芯片 定位方法 电压 漏电检测器 处理器 分析仪 漏电现象 芯片设计技术 参数 可读存储介质 存储计算机程序 耐压 线路 号码 存储器 信号
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