一种半导体存储装置的制备方法
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一种半导体存储装置的制备方法
申请号:
CN202510238202
申请日期:
2025-02-28
公开号:
CN120091563A
公开日期:
2025-06-03
类型:
发明专利
摘要
本发明提供了一种半导体存储装置的制备方法,应用于半导体制备技术领域。在本发明中,通过不设置光阻层和光罩,以对整个基底进行第一次离子注入的方式,以达到缩减形成第一阱区和第二阱区的光罩、光刻等相关工艺的目的,而后再通过后续注入的离子进行的反型离子的中和,达到对应形成导电类型相反的第三阱区和第四阱区,进而达到减少制程工艺的步骤,降低嵌入式闪存芯片的制造成本,以及提高产品竞争力的目的。
技术关键词
CMOS器件
半导体存储装置
离子注入工艺
基底
嵌入式闪存
掩膜
光罩
导电
光刻
制程
芯片
沪ICP备2023015588号