一种用于光栅干涉仪的安装误差的校准方法

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一种用于光栅干涉仪的安装误差的校准方法
申请号:CN202510241887
申请日期:2025-03-03
公开号:CN120043440A
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种用于光栅干涉仪的安装误差校准的方法,所述方法为:选择能反映光栅与读数头相互之间影响的点作为参考点,使用光栅干涉仪对参考点进行测量得到条纹数,经过计算得到读数头位移,根据读数头位移设置点之间的函数关系进行最小二乘拟合,得到反映几何误差的参数;更新参数后重新计算工件台位置,完成对光栅干涉仪几何误差的校准。本发明可用于光栅干涉仪安装误差的校准、纳米级光栅干涉位移测量系统算法的优化。
技术关键词
光栅干涉仪 安装误差 读数头 纳米级光栅 校准方法 参数计算方法 系统算法 条纹 工件台 定位点 关系 数学
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