摘要
本发明公开了一种封装基板翘曲仿真方法,包括:利用有限元分析方法建立基板的第一工艺的仿真模型,利用第一工艺的仿真模型得到在第一工艺下的应力、翘曲仿真结果和节点位移信息;建立第二工艺的仿真模型,利用第一工艺下的节点位移信息,将第一工艺下的应力和翘曲仿真结果传递至第二工艺的仿真模型中,利用第二工艺的仿真模型得到在第二工艺下的应力、翘曲累积仿真结果和节点位移信息;以此类推,直到建立第N工艺的仿真模型,利用第N‑1工艺下的节点位移信息,将第N‑1工艺下的应力和翘曲积累仿真结果传递至第N工艺的仿真模型中,利用第N工艺的仿真模型得到在第N工艺下的应力仿真结果和翘曲累积仿真结果。提高了封装基板的预测精度。
技术关键词
仿真模型
有限元分析方法
翘曲仿真方法
封装基板翘曲
仿真装置
偏差
节点
测试模块
应力
封装工艺
参数
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