一种稳定型芯片测试治具及测试设备

本发明涉及芯片测试治具技术领域，特别是涉及一种稳定型芯片测试治具及测试设备，包括多组治具主体，治具主体的侧面开设有收纳腔，收纳腔的内部活动安装有废料盒，治具主体的上侧设置有测试组，治具主体的上侧对应收纳腔位置设置有检测组，治具主体的另一侧对应测试组位置设置有辅助组；测试组包括测试腔和贯穿槽，测试腔和贯穿槽的内部活动设置有连接芯体和测试板，测试板的侧面分别设置有支撑板和限位杆；检测组包括连接腔和配合腔。本发明通过设置测试治具及其当中的测试组和检测组，可实现对芯片的机械式触发按压限位，保证芯片测试时的稳定有效，且机械结构省去了电控结构，有效控制了成本。