光芯片及其制备方法和应用

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光芯片及其制备方法和应用
申请号:CN202510252314
申请日期:2025-03-04
公开号:CN120335093A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及半导体技术领域,具体涉及一种光芯片及其制备方法和应用。本申请中所述制备方法包括如下步骤:(1)在硅衬底表面依次沉积第一硬掩膜、第二硬掩膜、抗反射层和光刻胶;所述第二硬掩膜的材质包括非晶硅;(2)根据光芯片的结构依次刻蚀至少部分光刻胶、抗反射层、第二硬掩膜和第一硬掩膜;(3)去胶清洗,得到含有至少部分第二硬掩膜和第一硬掩膜的硅衬底,刻蚀硅衬底,去除第二硬掩膜和第一硬掩膜,得到所述光芯片。本申请所述制备方法可以制备小线宽尺寸和高深宽比的光芯片,尤其是超表面光芯片;而且,所述制备方法与CMOS工艺兼容,适用于常规CMOS生产线,可以大规模量产。
技术关键词
硬掩膜 光芯片 硅衬底 光刻胶 刻蚀深度 六氟化硫 非晶硅 气相 二氧化硅 高深宽比 低压 氧气 分辨率 气氛 气体 尺寸
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