一种基于稀疏反卷积的纳米薄膜显微图像增强方法及系统

本发明提出了一种基于稀疏反卷积的纳米薄膜显微图像增强方法及系统，旨在解决原位显微成像中因成像系统、样品特性引起的图像模糊、和边缘低对比度等问题。该方法通过自适应直方图均衡增强局部对比度，结合小波分解提取多尺度信息，并引入通道和空间注意力机制提升高频分量权重，进一步提升分辨率。结合稀疏盲去卷积在无需先验模糊核的条件下恢复高频细节，并采用非局部均值去噪以减弱对边缘的损伤，实现了高效且精准的图像恢复与增强，显著提升了纳米薄膜显微图像的清晰度与细节表现，适用于纳米薄膜材料的光学原位显微图像处理，能够为纳米材料的实时观察与微观结构表征提供高质量的图像支持，具有广泛的应用前景和重要的科研价值。