车规级AI芯片进行托盘测试装置及其控制方法

本发明涉及一种车规级AI芯片进行托盘测试装置及其控制方法，所属集成电路芯片测试技术领域，包括机架，机架内设有检测机构，检测机构包括与机架相连接固定的底板，底板上设有检测组件，检测组件与底板间设有检测移栽平台，检测组件后端设有芯片托盘所述的芯片托盘下端与底板间设有码垛组件。检测组件包括检测支架，检测支架上部设有检测相机。码垛组件包括码垛架，码垛架上设有用于放置芯片托盘的码垛料仓。通过电机的驱动，进行拆垛，搬运，上下等动作，使设备运行速度可控更加顺滑，有效避免芯片受到剧烈的震动，提高了作业的稳定性，降低了物料损坏的概率。实现了自动检测功能，使得物料在运输过程中避免物料震出。