测试数据的缺失值填充方法、装置和计算机可读存储介质

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测试数据的缺失值填充方法、装置和计算机可读存储介质
申请号:CN202510257814
申请日期:2025-03-05
公开号:CN120180012A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种测试数据的缺失值填充方法、装置和计算机可读存储介质。该方案中,首先获取原始测试数据、原始测试数据的缺失值的标记矩阵、原始测试数据的观测时间间隙;根据预设填充标准对原始测试数据的缺失值进行填充,得到填充完成的完整原始测试数据;然后,利用原始测试数据、标记矩阵、观测时间间隙和完整原始测试数据对神经网络模型进行训练,得到缺失值填充模型;最后,将存在数据缺失的待填充测试数据输入至缺失值填充模型进行填充,得到填充完成的完整测试数据。该方案解决了现有技术中的缺失值处理方案在处理大规模、高维度的测试数据时泛化能力较低的问题。
技术关键词
缺失值填充方法 神经网络模型 矩阵 标记 可读存储介质 网络架构 通道 计算机 填充装置 统计方法 分布特征 程序 元素 数据 存储器 策略 处理器 数值 电子设备 时序
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