一种利用硅质岩厚度判断重晶石沉积中心的方法

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一种利用硅质岩厚度判断重晶石沉积中心的方法
申请号:CN202510259450
申请日期:2025-03-06
公开号:CN119986789B
公开日期:2025-10-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种利用硅质岩厚度判断重晶石沉积中心的方法,涉及矿产资源勘查技术领域,包括,收集地震波反射数据和地质数据,并进行预处理;基于处理后的地震波反射数据,预测硅质岩层的厚度;将硅质岩层的厚度和预处理后地质数据输入到三维地质模型中,生成硅质岩厚度空间分布图;对硅质岩厚度的空间分布图进行分析,得到硅质岩厚度变化区域;基于硅质岩厚度变化区域,识别出重晶石沉积中心候选区;利用空间分析技术对重晶石沉积中心候选区进行分析,得到重晶石沉积中心的空间位置。本发明通过利用空间分析技术对候选区进行多参数优化,精确确定重晶石沉积中心位置。
技术关键词
空间分析技术 三维地质模型 矿产资源勘查技术 钻孔 表达式 梯度方法 数据分布 处理器 界面 计算机设备 分析方法 插值法 多参数 速率 可读存储介质 存储器 特征值 地震 曲面
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