芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该芯片测试方法包括确定待测芯片的信号通道数量和测试需求；根据信号通道数量和测试需求，从预设信道配置方式中确定目标信道配置方式；根据目标信道配置方式为芯片配置测试信道，每个测试信道对应一个信号通道组，每个信号通道组包括至少两个信号通道；利用多路复用模块，从对应的信号通道组中选取每个测试信道当前对应的目标信道；对目标信道进行测试，并返回执行利用多路复用模块，从对应的信号通道组中选取每个测试信道当前对应的目标信道的步骤，直至所有信号通道测试完成为止。本方案可以降低芯片测试的测试成本。